完成基板の検査を、少ない登録作業で実施することができる基板検査装置をHALCONで開発。
パッド、SR、シルクなどの領域毎に検出条件を自動調整。少量多品種の基板を効率的に検査可能です。
CASE適用事例
実装前基板外観検査装置【アジアエレクトロニクス株式会社様】
2015.11.28
半導体/IC
HALCON
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