外観検査では対象表面のゴミやキズなどを検出します。一般的に、金属など光沢のある対象物や模様のある対象物の外観検査は、撮影画像に激しい輝度むらを生じることが多く処理が困難です。HALCONでは動的閾値法という特殊な二値化処理を適用することで、このような困難な場合であっても容易にかつ高速に目的のキズを見つけ出すことができます。
HALCONの特長的な機能である動的閾値法を用いることによって、左画像のような金属表面上の外観検査も容易に実現できます。
ここでは模様のある金属表面上の直線的なキズを抽出する処理をご紹介します。
動的閾値法により、金属表面上においても、近傍の輝度値との変化が大きい領域のみを抽出します。
ハフ変換により領域に含まれる直線成分を見つけ出します。
直線成分の傾き情報を用いて、キズが水平方向を向くように画像全体を回転します。
動的閾値法では、水平方向と垂直方向の輝度変化に対する感度をそれぞれ調節することができます。水平方向の感度を上げて再度動的閾値法を適用することで、金属表面上の直線的なキズを抽出することができました。
