サブピクセル精度での１次元計測は、HALCONにおいては直線に限った機能ではありません。アプリケーションによっては、オブジェクトの幅を直線ではなく円弧に垂直に計測したいというご要望も考えられます。HALCONでは矩形の計測範囲指定による1次元計測と同様に、円弧の計測に関しても極めて容易かつ高精度に計測を行うことが可能です。
ここでご紹介する事例では左のような金属部品の中央部4つの穴同士の幅を計測することが目的です。
このような場合、計測範囲を矩形で設定して計測を行ってしまっては、直線と円弧の違いにより高精度な計測を実現することはできません。
HALCONでは計測矩形と同様に、環状に計測範囲を設定することが可能です。これにより、円弧に垂直なエッジ点を抽出することが可能となり、円弧に沿ったエッジ点間の距離の計測を実現することができます。
左の画像はエッジ点が抽出された付近を拡大した画像です。高精度にエッジ点が抽出できていることが分かります。
このようにHALCONでは、直線に限らず円弧状に沿った計測も可能です。アプリケーションの内容にあわせて最適なものをお選びいただけます。
