HALCONの特長的な機能として、自由度の高い解析範囲の絞込み機能があります。この機能を活用し、任意に解析範囲を絞り込むことにより、通常でも十分高速なHALCONの処理速度をさらに高めることができます。また外観検査に有効な動的閾値処理を適用することによって、対象のキズやひび割れを容易に検出することが可能です。
左画像では、検査対象左の湾曲している部分から右に向かってひび割れが生じています。この事例では、このひび割れの領域を欠陥として抽出することが目的となります。
今回の事例では、ひび割れが発生する箇所が検査対象の湾曲部分から右の領域であることが分かっています。そこでHALCONの解析範囲絞込み機能を用いて、左画像に示す領域に対してのみ処理を行います。
外観検査に非常に有効な動的閾値処理を用いて、ひび割れ部分を抽出します。ここで、ひび割れ付近にある縦方向に伸びた目盛の領域を抽出しないように、縦方向にのみ平均化した画像を用いて二値化を行っています。
特徴量解析やモフォロジー処理を行うことによって、ひび割れ部分のみを抽出することができます。
このようにHALCONの強力な機能である解析範囲の絞込みと動的閾値処理を用いることによって、容易かつ高速に欠陥領域を抽出することが可能です。
