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2011年 6月8日〜10日にパシフィコ横浜にて開催された画像センシング展2011では、大変多くのお客様にご来場いただき、誠にありがとうございました。
今回実施した新企画 "HALCONユーザ装置展示 『HALコラボ』 "にてご紹介したHALCON / BASLER ユーザー様装置紹介ムービーを、展示会にご来場いただくことが出来なかったお客様にも広くご覧いただくために、ユーザー様からの特別の許可を得て、LinX
Express にてご紹介していきます。
実際のムービーは以下の 『ユーザー装置紹介ムービー』 ページにアクセスしてご覧下さい。
■ 三友工業株式会社殿 『自動車ガラスのプライマー塗布状態検査装置』
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三友工業殿のプライマー塗布状態検査装置では、BASLER ace
の特徴機能を最大限に活用し、信号ノイズや外乱の多い環境下に
おいても安定した取込を実現しています。HALCONを用いて
独自技術によりロバストな検査アルゴリズムを構築し、リアル
タイムに安定検査を行うことが可能です。
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■ 株式会社昭和電気研究所殿
『ラベル印字品質検査装置』
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昭和電気研究所殿のラベル検査装置では、印刷物の微小な
良品変動に対して、HALCONのバリエーションモデル手法を
適用することにより、高精度な検査を実現します。多品種
ラベルにも柔軟なモデル自動登録機能によりロバストに対応
します。
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■ フロンティアシステム株式会社殿
『筒状対象の隙間検査装置』
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様々な筒状製品の隙間を高精度かつ高速に計測・検査する
本システムでは、HALCONの様々な機能を組み合わせること
により、多品種へのロバストな検査を実現しています。
BASLER aceカメラとの組み合わせにより、柔軟かつ信頼性
の高い検査を提供します。
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■ 株式会社ユニハイトシステム殿 『3次元X線透視装置 XVA-160』
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透過型開放管マイクロフォーカス３次元Ｘ線透視装置XVA-160ユーセントリック機能（特許取得済み）により、着目点を中心に360度あらゆる方向から撮像することで、欠陥を見逃すことなく検出。
3次元斜めCT方式を採用することで、斜め方向からの撮影により大型基板でも破壊することなく断層を撮影。
画像処理エンジンとしてHALCONを採用。フィルタリング処理や歪み補正はもちろん自動欠陥検出や自動計測を実現。
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■ リコーエレメックス株式会社殿 『球状シール面自動検査装置』
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球状シール面自動検査装置は、金属加工部品の細い深穴内部のミクロンサイズのキ
ズ、汚れ、ダコンの自動検査を、HALCONの画像処理機能との組み合わせにより実現し
ます。高精度なメカ技術とHALCONの融合により、良否境界が曖昧な欠陥に対しても、
ロバストな欠陥抽出を行います。 |
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