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2011年 6月8日〜10日にパシフィコ横浜にて開催された画像センシング展2011では、大変多くのお客様にご来場いただき、誠にありがとうございました。
今回実施した新企画 "HALCONユーザ装置展示 『HALコラボ』 "にてご紹介したHALCON / BASLER ユーザー様装置紹介ムービーを、展示会にご来場いただくことが出来なかったお客様にも広くご覧いただくために、ユーザー様からの特別の許可を得て、LinX
Express にてご紹介していきます。
実際のムービーは以下の 『ユーザー装置紹介ムービー』 ページにアクセスしてご覧下さい。
■ アジアエレクトロニクス株式会社殿 『実装前基板外観検査装置 APiS-100WB』
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完成基板の検査を、少ない登録作業で実施することができる 基板検査装置をHALCONで開発。 パッド、SR、シルクなどの領域毎に検出条件を自動調整。 少量多品種の基板を効率的に検査可能です。 |
■ 川崎重工業株式会社殿
『高速ピッキングロボット』
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川崎重工業殿が提供する高速ピッキングロボットは、食品、薬品、化粧品の製造ラインを始め、ソーラーパネル組み立てなどにも幅広く使用できる、
パラレルリンク方式のロボットです。
川崎重工業殿独自の高度な画像処理技術と、画像処理ライブラリHALCONとの組み合わせにより、高速で安定したピックアンドプレースを実現します。
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■ 株式会社ケー・デー・イー殿
『フィルム外観検査装置』
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ケー・デー・イー殿の提供する製品の1つとして、HALCONをベースとした
検査装置がラインナップされています。紹介するフィルム検査装置では、
BASLER製の高速ラインセンサー複数台を用いて取り込んだ画像に対して、
HALCONを用いた外観検査アルゴリズムにより欠陥を検出し、分類法による
自動欠陥分別までを実現します。
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■ 大和サービス株式会社殿 『巻き締め不良検出機』
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高速な製罐業界のニーズに応えるべく、BASLER製GigEカメラ
4台を用いた同時全周検査を行っている事例です。缶の巻き締め
部分を4方向から撮像し、HALCONを用いた外観検査アルゴリズム
により欠陥をロバストに抽出します。
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■ 株式会社ニッケテクノシステム殿 『基板実装外観検査装置 Cyclone』
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基板実装外観検査装置Cycloneシリーズでは、HALCONの
パターンマッチングやカラー抽出などのアルゴリズムと、
ニッケテクノシステム殿独自の光学系を駆使し、通常では
困難な検査を容易な操作で可能にします。
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■ パシフィックシステム株式会社殿 『全周囲果実外観センサー』
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全周囲果実外観センサ−は、HALCONで画像処理、BASLERカメラで
画像撮影を行う検査装置です。柑橘系果実（みかん・伊予柑など）や落葉系果実
（梨・リンゴなど）の外観計測を行い、全周囲（上側面・底面）の、傷・形状・
色付きなどの幅広い検査項目を持ちながらも低コストを実現した検査装置です。 |
■ 横河電機株式会社殿 『e-RT3 2.0』
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e-RT3 2.0マシンビジョン・ソリューションは、C言語コントローラe-RT3 2.0による高度な機械制御に加えHALCONによる画像処理機能が融合された画期的なソリューションです。専用モジュールによるアナログカメラ画像取得や画像表示が可能。 PCレスで高度なマシンビジョンシステム構築を実現します。 |
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