HALCON Trial Kit 2.0では適用事例と演習を追加し、さらにHALCONの全容がわかりやすくなりました。マシンビジョンの分野においてHALCONがどのように活用されているのか、そしてそれらがどのように実装されているのかが詳細に記述されています。

■ 適用事例紹介を大幅にボリュームアップ

旧バージョンでは6個用意していた適用事例ですが、新バージョンでは新たに22個の新規適用事例を追加し、28個にボリュームアップしました。事例をアプリケーション別に分類することで、より使いやすい仕様となりました。

各適用事例に対して丁寧な日本語解説が付いており、処理内容を手順に沿ってグラフィカルに表示するため直感的に理解しやすい仕様になっています。HALCONで可能な処理が一目で理解できることに加えて、詳細なプログラムの解説も付いているため、導入を検討している方だけでなく既にHALCONを用いて開発を行っている方にもうれしい内容となっています。

■ 演習を新たに2つ追加

HALCONを実際に使用しながら、実践的なプログラミングの知識を効果的に習得できると大変好評な「演習！HDevelop」にも、新たに2つの演習が追加され、7つの演習がHALCONの学習をアシストします。以下では新たに追加された演習の内容について紹介します。

■ 縦・横スケーリング

〜大きさの異なるチップコンデンサの検出〜

前回のバージョンでは触れられていなかったパターンマッチングを詳細に解説します。この演習では縦横比の異なるチップコンデンサに対して、1つのモデルを用いて高速・高精度なパターンマッチングを行います。プログラミングの1行1行の解説に加えて、HALCONに搭載されているパターンマッチングのアルゴリズムに関しても詳細な解説をなされているため、パラメータの調整法などの実践的な部分まで理解することが可能です。

■ バリエーションモデル

〜許容範囲を持たせた良品・不良品検査〜

不良品検査などでよく用いられる画像差分の考え方を拡張したのがこのバリエーションモデルです。印刷の品質検査などを行う場合、通常の画像差分では判断が厳しくなりすぎてしまうことがあります。バリエーションモデルでは、ある程度のズレや輝度値の変化に対して良品としての許容範囲を持たせることでこのような問題を回避することが可能です。印刷検査やフレキシブル基盤の外観検査などを中心に幅広く実用されている機能の一つとなっています。

HALCON Trial Kit 2.0では、HALCONがマシンビジョンの分野においてどのように活用され、それらの処理がどのようにして実装されているのかを、更に詳細に記述しました。HALCONを体験・学習するためのツールとして、さらに深化したHALCON Trial Kitを是非ご活用ください。

■ 日時・場所
2009年2月25日（水） 13:00-17:15　　京都会場： 京都リサーチパーク会議施設バズホール（西地区）
2009年2月26日（木） 13:00-17:15　　名古屋会場： TKP名古屋会議室
2009年2月27日（金） 13:00-17:15　　東京会場： 秋葉原コンベンションホール
　　
■ お申込みURL
本セミナーは事前申込制となっております。お手数ですが、開催要項およびお申込みについては特設ページをご覧ください。
　
↓HALCON 9.0新機能紹介セミナー特設ページ
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