■ 第25回エレクトロテスト・ジャパン

新年明けましておめでとうございます。

本年も更なる画像処理テクノロジー発展のために尽力してまいりますので、何卒よろしくお願い申し上げます。

   

リンクスは2008年1月16日（水）〜18日（金）まで東京国際展示場で開催される「第25回エレクトロテスト・ジャパン」に出展します。本LinX Expressでは、弊社ブースでの見所についてご案内いたします。

■ リンクスブースの見所

小間番号9-9（会場案内はこちら）にて、HALCONおよび銀河ボードを組み合わせた各種デモ装置を出展いたします。各種デモ機では、半導体および電子部品業界等で要求される様々な画像処理を実現しております。是非ブースにお立ち寄りください。また、画像処理でお悩みの点などございましたら弊社エンジニアにご相談いただければと存じます。

　　

【展示デモ】

■AOI検査機デモ

■銀河digital-CLe-Fの超高速画像取り込みデモ

■金属打刻文字認識デモ

■オフラインデモ集

　　

　　

■ AOI検査機デモ

CADデータを用いて人工的に作成した電子部品のデータを元に高速・高精度にマッチングを行います。画像から直接モデルを作成する方法に比べ、部品の変動にロバストなマッチングが実現できます。

人工的に作成したモデル

■ 銀河digital-CLe-Fの超高速画像取り込みデモ

ラインセンサーによる大容量画像の超高速取り込みを、PCI Expressに対応した次世代画像入力ボード・銀河digital-CL2e/CL4e-Fにて実現します。

 

高機能カメラの性能を十分に引き出すことで、画像処理の可能性が飛躍的に広がります。本デモでは、4MBもの大容量画像を約100fpsという驚異的な速度で取り込みます。さらにHALCONの高速画像処理と組み合わせることで、フレキシブル基板を対象に高精度計測を実現しています。

 

銀河digital-CL2e (PCI Express対応)

■ 金属打刻文字認識デモ

金属プレート上に打刻された文字を高速かつロバストに読み取ります。認識が難しいとされる金属面上の文字を、HALCONの豊富な前処理機能を用いてロバストに抽出し、誤認識率の非常に低いOCR機能により高精度に読み取ります。

■ オフラインデモ集

半導体および電子部品業界等で要求される位置決め、高精度計測、外観検査、OCR、データコード読み取りなどの様々な処理をHALCONで実現いたします。ご興味がおありの機能がございましたら、是非ご覧ください。

　

　

開催期間：　2008年1月16日（水）〜18日（金）

弊社小間番号：　9-9