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■ ステレオ方式の3次元ラインスキャンカメラ 3DPIXA

3DPIXAシリーズは、高さ画像とカラー画像を同時に取得するステレオビジョン方式のカラーラインスキャンカメラです。 高分解能のラインセンサにより、サブミクロン精度での高精度計測を超高速に実現します。 3DPIXAに関する記事のバックナンバーは以下よりご覧いただけます。 ◆Vol.1の記事はこちら ◆Vol.2の記事はこちら ◆Vol.3の記事はこちら ◆Vol.4の記事はこちら

■ VisualAppletsによってFPGAカスタマイズが可能なMarathonボード

MarathonシリーズのVタイプボードは、任意のFPGA画像処理を実装することが可能な画像処理ボードです。 FPGAの知識が全くないソフトウェアエンジニアの方でも、FPGAを使用した超高速画像処理システムを実現するこを可能にします。 ◆VisualAppletsの紹介記事はこちら

従来、3DPIXAで取得した視差画像から高さ画像を生成するためには、撮像した画像を画像入力ボード→CPU→GPUと転送を重ね、GPU上で処理を行う必要がありました。しかし、背景にノイズが多かったり、撮像条件が悪い状態でラインレートが高速になると、CPU-GPU間のデータ転送で生じる遅延なども相まって、スキャン速度に対して高さ画像の生成が間に合わない場合がありました。
VisualAppletsの開発元であるSilicon Softwareでは、Chromasensと共同でステレオ法による3次元データ復元のアルゴリズムをFPGA化し、Marathon-VCLx上に実装することでこれらの問題を解決するだけでなく、撮像と同時のリアルタイムな高さ画像の生成を実現しました。画像入力ボードのFPGA上を使用することで、下記３点のメリットがあります。

①リアルタイムな高さ計測アプリケーションが実現可能
リアルタイムな高さ画像の生成により、超高速で流れるワークの高精度での全数検査や、実装基板検査の高速化・高精細化の要求などに一度に対応します。また、Marathon-VCLxではリアルタイムな外部IOの制御も同時に行うことができますので、照明の制御だけでなく、PLCと連動して欠陥品を除去することも可能です。

②部品点数の削減によるリスクの低減
Marathon-VCLx上で高さ画像の生成を行うことでGPUが不要になり、システムの部品点数を減らすことが可能です。これはシステムのメンテナンス性が向上するだけでなく、GPUが抱える発熱やコンシューマー向け製品であるが故の供給寿命の短さなどのリスク低減に寄与します。

③CPU負荷ゼロで実現
Marathon-VCLx上での処理はGPUが不要になるだけでなく、CPU負荷の低減にもつながります。これにより、後処理をよりパワフルに行えるだけでなく、低価格なPCでの検査を可能にしシステムコストの低減にも貢献します。

超高速で流れてくる錠剤の外観検査はMarathon-VCLxと3DPIXAに最適なアプリケーションの1つです。錠剤検査では、欠け・割れ、汚れ、異物、刻印・印刷など様々な検査項目が存在します。高精度な3次元データとカラー画像が一度に取得できる3DPIXAでは、これらの検査を行うために必要となる画像を1台で取得することが可能です。また、またフィーダーから高速で供給され続ける錠剤の高さをリアルタイムに計測し続けるにはFPGAが最適です。

以下は、3DPIXA CompactとMarathon-VCLxの組み合わせでタブレットの高さ計測を超高速に行っているデモ機の様子です。

ラインレート20kHzでの取り込みに合わせて高さ画像が出力されていることをご覧いただけるかと思います。Marathon-VCLx上では、1msec以下の処理時間で高さ画像の生成を行っております。

下記は、映像内のデモ機で実際に撮像した結果になります。カラー画像と刻印された文字を含む高さ画像が同時に取得されます。

3次元センサーの評価を随時受け付けています。評価や製品に関するお問い合わせは下記フォームよりお気軽にお問合せください。

Silicon Softwareの画像入力ボードは、NVIDIA社のGPUDirectテクノロジーに対応しました。
画像入力ボード-GPU間のデータ転送をパイプライン的に行うことで、取り込みに同期したデータ転送を実現しております。これにより、GPUへのデータ転送の際に発生していたオーバヘッドを最小限に短縮しております。

今までGPUと画像入力ボードをお使いで、データ転送がアプリケーションのボトルネックになっていたお客様全員にお役立ていただける機能になっており、すべてのSiliconSoftware社製ボードでお使いいただけます。

ご参加いただいた全員に、実際にVisualAppletsを触っていただきながら、開発を行うための基本ルール、アプリケーション作成までの流れ、HALCONとの接続方法などを習得いただける内容になっております。残りわずかですが受講枠がございますので、検査の高速化/高精細化をご検討中の方はぜひご参加ください。

日時：6月27日（木） 13:00～
場所：リンクス(東京都品川区上大崎2丁目24-9 アイケイビルディング4F)
参加費用：無料

「Industrial IoT」という言葉が世の中に登場ししばらく経ちましたが、この抽象的な概念の本質が未だ掴めず悩まれている方は沢山いらっしゃるのではないでしょうか。
その課題を解決すべく、この度リンクスが【Industrial IoT Meeting】を開催する運びとなりました。本イベントでは自動車、製薬、食品・飲料、各産業のトップメーカーの「現場」の事例を限定公開。本当に聞きたかった、担当者の生の声や現実をお伝えします。
すでに多数の反響をいただいております。お席に限りがございますので、お早めにお申し込みください。