第24回エレクトロテスト・ジャパン [2007年1月17日(水)〜19日(金)]

2007年1月17日(水)から1月19日(金)まで開催される「第24回エレクトロテスト・ジャパン」に、東3ホール『画像処理ゾーン』7-10にて出展致します。会場ではHALCONを用いた、半導体業界で必要とされている位置決め、外観検査、高精度計測、文字認識、データコードの読み取りなどの多彩なデモ機を展示致します。 

 リンクス展示ブースのご紹介 (東3ホール『画像処理ゾーン』 7-10)
  eXcite による高精度計測 & OCR

世界最高性能を誇るインテリジェントカメラ”eXcite”は、高性能カメラと、組み込み系CPU(MIPS-1GHz)をコンパクトな筐体に搭載した、ファンレス・スタンドアローンのマシンビジョンシステムです。そこに、ICチップのリードの高精度計測、印字された文字のOCRを高速に実現するHALCONアプリケーションを搭載します。

  eXciteによるQRコード読取

HALCONのデータコード読み取り機能は、他の追随を許さない優れたパフォーマンスを提供します。複数データコードの同時高速読み取り、金属面などの表面打刻コードのロバストな認識、2ピクセル/マークという粗い画像からの読み取りなど、HALCONでしか実現できないパフォーマンスを是非ともご覧ください。

  カラー検査

予め画面のあらゆる所に配置したヒューズを各アンペアごとにニューラルネットワークを用いて色と形状の学習を行っています。学習の結果、判別が困難であるオレンジと茶色と赤、透明と黄色といった見た目にも近いヒューズを識別できていることが確認できます。

  基板検査

基板検査に求められる様々な要求をHALCONですべて実現するデモ装置です。パターンマッチングを用いてボードのアライメントを行い、チップのピン間の距離計測、チップ抵抗の有無、シルク印刷された文字のOCR検査を実現します。

 

HALCON10周年記念祭 開催!!        

今回のイベントでは、この10年間におけるHALCONの成長を振り返るとともに、今後も継続してマシンビジョンテクノロジーの発展に挑戦し続けるMVTec Software社の将来の展望についてご紹介いたします。また、この10年間に渡ってHALCONはさまざまな分野で活躍して参りましたが、それらを代表して8社のユーザ様から、その成功事例をご講演いただきます。

これからHALCON導入をお考えの方もぜひご参加いただき、HALCONの世界での活躍ぶりをご覧ください。

 

開催要項およびお申込みについては、↓のバナーをクリックして特設ページをご覧ください。

  適応事例講演
 ・ボッシュ殿(ドイツ)
 ・日本検査機株式会社殿
 ・日本ノーベル株式会社殿
 ・第一実業ビスウィル株式会社殿
 ・澁谷工業株式会社殿
 ・RODENSTOCK殿(ドイツ)
 ・キヤノンマシナリー株式会社殿
 ・株式会社本田技術研究所殿

  スケジュール
日時: 2007年1月30日(火)
時間: 10:00 〜 17:15 (昼食付)
場所: パシフィコ横浜 会議センター(小ホール)

定員: 400名
(定員になり次第お申込みを締め切らせていただきます)